干涉條紋光源
-
- 干涉條紋光源
- CCS
- LDF-200X20GR-NB
- 日本
- 2-3周
使薄膜、涂層涂布的有無及不均勻可視化 外觀缺陷檢測用光源 LDF-NB系列 ※干涉條紋:在某些條件下,薄膜各層的反射光根據膜厚的不同會發生增強或減弱,因此會根據明暗或RGB的波長生成干涉條紋。
特點
在制造薄膜、半導體、玻璃等的涂布工序中、為了檢測涂布的不均勻和有無、使用了三波長熒光燈和鹵素燈等 光源。將這些光源照射到涂層面上時、薄膜各層發生的光的反射會產生干涉條紋、是觀察其狀態的方法。但是、 這些熒光燈和鹵素燈從能源效率等觀點出發、制造廠家相繼停止生產、尋求替代光源的市場需求正在提高。 為了滿足這樣的要求、本公司將發售適用于干涉條紋產生的光譜寬度、使用激光二極管的檢測用光源 LDF-NB 系列。激光二極管發出的激光波長適合產生干涉條紋、但如果將激光二極管發出的光直接用于檢測、產生的斑 點噪聲※2 可能會影響檢測。LDF-NB 系列通過獨特的光學設計降低了散斑噪聲、提高了發光面的均勻度(已申 請專利)。 ※2:散斑噪聲(speckle noise)…當激光照射到漫射面時、漫射光相互干涉、產生圖像的閃爍。 該系列產品有條型形狀的發光面尺寸 200mm×20mm、激光的波長有 658nm(紅)、520nm(綠)、450nm(藍)除此之 外還可以混合 658nm、520nm、450nm 的 RGB 的 4 種。另外根據用途不同、尺寸不同、還可進行平面光類形、同 軸光類形等的特別定制。 CCS 公司今后也將以制造、銷售檢測用光源和電源為核心業務、通過使用檢測用相機、鏡頭、圖像判定程序、人工智 能進行檢測等、為實現「看得見」這一目標而提出各種方案、為客戶提供便利、確立不可替代的解決方案供應商的 地位。